對測科技工作室

卡匣視覺量測系統

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◆ Motion X/Y/Z/θ
◆ Camera GIGE 200萬畫素 (Basler 1600x1200)
◆ 影像量測技術
◆ 四面檢查
◆ 多項檢測項目
◆ 機器視覺軟體

觀看大圖

◆ Motion X/Y
◆ CCD 640x480
◆ 搖桿移動控制
◆ 不良點標記
◆ 輸出 WaferMAP.txt
◆ 讀取 WaferMAP.txt

觀看大圖

◆ 晶圓條碼讀取
◆ 晶圓條碼列印
◆ 晶圓條碼確認
◆ 2維條碼讀取
◆ 1維條碼列印
◆ 1維條碼/2維條碼

觀看大圖

◆

◆ 軸控元件選用
◆ 光學元件選用
◆ 視覺量測技術
◆ 視覺定位技術
◆ 機器視覺程式
◆ 自動化控制軟體

◆ CCD 640x480
◆ Mitsubishi NC Controllor
◆ 影像定位技術
◆ 觸控介面操作
◆ 主軸面板加工
◆ 機器視覺系統

◆ Motion X/Y/Z
◆ CCD 640x480
◆ 影像定位技術
◆ Laser 測距
◆ 主軸錫球加工
◆ 自動化控制程式

觀看大圖

◆ 自動控制電路規劃設計
◆ 自動控制電路配線配盤
◆ 自動控制相關元件與材料
◆ 光學系統相關元件與材料
◆ 自動化控制系統
◆ 機器視覺相關

◆ motion X/Y/Z
◆ 300mm x 300mm x 100mm
◆ CCD 640x480